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Phasics波前分析仪介绍

发布日期:2015-06-08

基于四波横向剪切干涉技术的波前传感器,具有高分辨率、消色差、高灵敏度、高动态范围、操作简便等特点。


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  Phasics波前分析仪


  法国Phasics公司自主研发的波前传感器是基于四波横向剪切干涉技术(4-Wave Lateral Shearing Interferometry) ,较传统的Shack-Hartmann技术具有独特的优势,具有高分辨率、消色差、高灵敏度、高动态范围、操作简便等特点,为波前测量与光束分析提供了全新的解决方案!其配套软件界面友好,可输出高分辨率相位图与光束强度分布图 。


  Phasics雄厚的技术实力,能为客户提供各种自适应光学系统OASys(adaptive optics loops)的解决方案。根据客户需求,推荐使用合适的SID4波前传感器、可变形镜或液晶相位调制器、自适应光学系统软件等。


  Phasics公司的所有产品都是建立于其波前测量专利技术之上,即四波横向剪切干涉技术(4-Wave Lateral Shearing Interferometry)。在改进型哈特曼掩模的基础之上,这种独特技术将超高分辨率和超大动态范围完美结合在了一起。任何应用下,其都能实现全面、简便、快速的测量。


  SID4: 一款紧凑型的波前传感器


  SID4波前传感器体积小巧,结合了传统的剪切干涉的优势,安装使用简单。我们的优势在于四波横向剪切干涉技术(基于改善后的哈特曼衍射遮挡板)。SID4是测量光束特性的必要工具,在光学测量方面有着许多应用。


  波长范围:350-1100nm


  分辨率高(160x120)


  消色差


  测量稳定性高


  对震动不敏感


  操作简单,Firewire IEEE 1394


  结构紧凑,体积小


  可用笔记本电脑控制


  SID4 HR:高分辨率波前传感器


  SID4-高分辨率波前传感器可应用于光学测量领域。其可实现300x400个测量点的相位图,保证了高精度测量,可用于对各种光学器件的测量,如透镜,物镜,球面镜,微透镜特征测量等。


  波长范围:350-1100nm


  高性能的相机,信噪比高


  实时测量,立即给出整个物体表面的信息(120000个测量点)


  曝光时间极短,保证动态物体测量


  操作简单


  SID4 UV-HR: 高分辨紫外波前传感器


  PHASICS公司将 SID4的波前测量波长范围扩展到190nm-400nm。SID4 UV-HR是一款适用于紫外波段的高分辨率波前传感器,非常适用于光学元件测量(例如印刷、半导体等等)和表面检测(半导体晶片检测)。


  高分辨率(250x250)


  通光孔径大(8.0mmx8.0mm)


  覆盖紫外光谱


  灵敏度高(0.5um)


  优化信噪比


  SID4 NIR: 高分辨率红外波前传感器


  SID4 NIR是一款覆盖近红外范围(1.5µm-1.6µm)的高分辨率波前传感器。


  可用于光学测量,SID4 NIR是测量红外物体和红外透镜像差、PSF、MTF和焦距及表面质量的理想工具。


  SID4软件介绍


  与SID4 波前传感器配套提供的是一款完整的分析软件,其集成了高分辨率的相位图与强度分布图,测量光强分布和波前信息。借助Labview和C++ 可编程模块数据库(软件二次开发工具包),客户能够根据自身的需要编写各种相位测量与编译模块。


  adaptive optics loops将SID4 wavefront sensor结合您的应用,选配合适的可变形镜或相位调制器,提供整套的自适应光学系统。减小任何一个光学系统的相差从来都不是简单的,我们的产品能为激光光束和成像系统带来更可靠,高精度的解决方案。


  光学测量软件Kaleo


  Phasics基于剪切干涉的波前传感器与专门设计的光学测量软件Kaleo结合,可以测量球面镜和非球面镜的像差及MTF等信息。只需要几秒钟,我们的仪器为您呈现绝大部分的光学参数,如焦距,光腰,MTF,像差,Zernike系数,曲率半径,PSF等。

我们营业的时间
9:00-18:00
关闭在线客服

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